PMP控制图 这里用一个具体例子来解释什么是控制图 假设现在工厂需要生成直径为1000mm (允许偏差为振幅4个标准差,即:±4mm)的螺丝钉我们要如何保证生成过程的质量呢?
这时候我们应该对生成出来的产品进行抽样检查,并且把检查的数据通过控制图绘制出来,以查看并确定质量情况
本文重点是简述控制图的要素及其原因
1. 上下规格线与4个标准差
首先画一个纵轴,在纵轴上绘制中点绘制出1000个均值线(最理想的情况)接这在1004(1000+4mm)这里绘制出 上规格线 ,再在996(1000-4mm)出绘制出 下规格线
这里1个标准差$ sigma=1mm$, 因此上下规格线距离均值线是4个标准差($4sigma$)
只要产品的尺寸落在规格线之内的产品,在工艺上是合格的产品但是我们这里是要做质量检查的,如果检查出来的产品虽然落在规格线之内,但是距离均值线很远,说明产品质量可能面临一定风险,一不留神生成的产品就突破了规格线
因此我们需要一个更稳定更有把握的质量控制标准这时候就需引入 控制线 来控制产品的品质
2. 控制线
控制线位于规格线内侧,距离均值各三倍标准差的位置也就是说控制线比规格线更严格
3. 质量不合格的3种情况
那么如果出现以下3种情况,说明质量出了问题,必须要 停工 查找原因以解决问题
3.1 连续7点位于均值一侧
当产品最终质量的数据连续7点都位于均值的一侧
3.2 连续7点呈单调上升或下降的趋势
单调上线/下降意思是产品出现越来越大/小的趋势,这时候哪怕点数是分布在均值两侧,也是不行,也必须停工查找原因
3.3 数据出现在控制线之外
当数据出现在控制线之外也是不允许,因为如果出现在控制线之外不停工检查原因并处理,很可能接下来你的产品就尺寸就会出现在规格线之外了
4. 相关习题
1): 项目已按时执行,项目经理现在必须确保可交付成果符合客户验收的质量标准项目经理应使用什么工具或技术?A project has been executed on time,and the project manager must now ensure that the deliverables conform to quality standards for customer acceptance. What tool or technique should the project manager use?
A:A.控制图 Control chart / B:B.散点图 Scatter diagram / C:C.帕累托图 Pareto diagram / D:D.直方图 Histogram
参考答案:A 解析:标准参考答案应该是检查,选项没有检查,也没有抽样统计,可以选控制图,因为控制图中有规格线,可以检查可交付成果是否合格
在过去十个月,在项目实施阶段出现了大量缺陷新缺陷数量每个月都不同项目经理应该参考下列哪一项来确定这些缺陷的 趋势 ?(Over the past ten months, a lot of defects have occurred in the project implementation phase. The number of new defects varies from month to month. Which of the following items should the project manager refer to to determine the trend of such defects?)
A:A.控制图 Control chart
B:B.散点图 Scatter Diagram
C:C.流程图 Flow Chart
D:D.统计抽样 Statistical Sampling
参考答案:A 解析:控制图的横轴是时间,可以描述趋势并进行相关分析 (散点图是展示相关性(强相关性弱相关性非相关方)的)
在PID控制中的p、i、d是如何计算的呢PID控制器的参数整定是控制系统设计的核心内容它是根据被控过程的特性确定PID控制器的比例系数积分时间和微分时间的大小PID控制器参数整定的方法很多,概括起来有两大类:一是理论计算整定法它主要是依据系统的数学模型,经过理论计算确定控制器参数这种方法所得到的计算数据未必可以直接用,还必须通过工程实际进行调整和修改二是工程整定方法,它主要依赖工程经验,直接在控制系统的试验中进行,且方法简单易于掌握,在工程实际中被广泛采用PID控制器参数的工程整定方法,主要有临界比例法反应曲线法和衰减法三种方法各有其特点,其共同点都是通过试验,然后按照工程经验公式对控制器参数进行整定但无论采用哪一种方法所得到的控制器参数,都需要在实际运行中进行最后调整与完善 一种增量式PID: U(k)=Ae(k)-Be(k-1)+Ce(k-2) A=Kp(1+T/Ti+Td/T) B=Kp(1+2Td/T)C=KpTd/TT采样周期 Td微分时间 Ti积分时间